雷射元件應用

雷射元件應用

OPHIR Ariel 雷射功率計，超小尺寸，免水冷可量測8KW高功率雷射

◆ 測量功率高達 8000W
◆ 緊湊且獨立，內置顯示屏、電池和藍牙通信
◆ 無水冷
◆ 防塵、防濺
◆ 包括用於高功率密度光束的可拆卸擴散器
◆ 波長：440-550nm、900-1100nm、2.94μm、10.6μm
◆ 14KJ 的高熱容量，用於連續測量不間斷
◆ 顯示測量值僅需 3 秒
◆ 超長續航：15小時以上
◆ 兩種測量模式：短曝光“脈衝功率”和連續
◆ 受PC和Android應用程序支持

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如何快速設計客製化雷射防護窗簾 ?

利用網站工具，簡單並快速設計出理想中的客製化雷射防護窗簾

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WB-I 寬光束成像儀簡介

Ophir 寬光束成像儀附件是一個緊湊的校準光學系統，用於測量 VCSEL、LED、邊射型雷射及光纖雷射的光束與發散角量測，可同時量測出光束尺寸與強度分布.

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Ophir® BeamWatch® Integrated – 工業高功率鐳射器的自動光束測量 | Ophir Photonics

MKS Ophir 推出的 BeamWatch 整合式工業雷射光束分析儀，可滿足鐳射材料加工用戶需求。 專為欲同時進行光束分析與高功率量測設計，結合了 BeamWatch 非接觸式光束分析和 Ophir 功率計，適合高工業自動化作業標準。 光束分析和功率計整合在一個封閉而且堅固的架構中。 除 GigE 外，還提供 ProfiNet、Ethernet/IP、EtherCAT 或 CC-Link 等工業接口，以便將系統輕鬆整合到自動化生產線中。 只需幾秒鐘即可完成全自動測量。

此外，還可以根據相關加工參數設置 OK/NOK（好/壞）信號輸出。 如果出現 NOK，用戶可以在錯誤參數生產出不良零件前及時發現。

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BeamPeek™，用於基層製造的高功率鐳射光束分析和功率測量系統 | Ophir Photonics

BeamPeek 同時整合了光束分析和功率測量系統，用於快速、準確、即時的測量基層製造系統腔體中的鐳射。
BeamPeek 系統只需三秒即可同時提供光束輪廓分析、焦點分析和功率測量。 無需水或風扇冷卻，因為BeamPeek 內含一個可更換的冷卻結構，可消除長時間或重複量測的冷卻時間。

BeamPeek 系統非常適合基層製造腔體內部粉末床的量測。 它能夠承受腔體內部條件，包括金屬粉末殘留物的存在以及無冷卻環境等。

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AlignMeter 用於關節臂校準

AlignMeter 典型應用：
- 直線度測量
- 機器校準
- 關節臂校準
- 雷射校準
影片中展示關節臂校準之應用。

Duma Optrpnics AlignMete之特點
1. 同時測量位置和角位移。
2. 激光束的測量能力低至 0.1µm 位置分辨率和 .006mRad 角度分辨率。
3.提供 100mm/50mm 焦距、9mmx9mm 或 4mmx4mm PSD。

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如何使用 PD300RM 測量 LED 的輻照度與劑量

您的應用是否會使用 LED 照射目標表面？ 舉例來說UV膠的固化就是很好的例子。
Ophir 的新型 PD300RM 傳感器可量測UV光LED 與可見光LED 的幅照度與劑量，這部影片將介紹PD300RM 的功能、獨特之處以及使用方法。

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透過 “StarViewer” Android APP 來操作 Ophir 的新產品

在這部短片中，您將學習如何透過“StarViewer”Android APP來操作 Ophir 的新產品 [ 超微型獨立式功率計 Ariel ]

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Laser Measurement PC Interfaces 雷射量測用的電腦通訊連接器

如果您的所有雷射測量工作都涉及筆記型電腦或 PC，而不是獨立的顯示儀表計，Ophir 的直接連接 PC 的接口之一可能是理想的解決方案。
這些是成熟的雷射功率計和能量計，但 PC 不是單獨的板載顯示器，而是您的顯示器。 在本影片中，您將了解 Ophir 提供的各種 PC 接口。

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