半導體量測應用

PEAK 設備 XpansionUI 軟體介紹

XpansionUI 是 PEAK Metrology 為 Keyence VK-X 系列顯微鏡打造的高階自動化擴充軟體。透過軟硬體整合，它能大幅提升 VK-X 的量測效率、重複性與設備整合能力，讓顯微系統從實驗室級升級成工業級、自動化、高精度量測平台。

XpansionUI 四大核心功能
• 大型 / 客製運動平台整合
• 高度感測 + 自動對焦 + 碰撞保護
• 影像自動找點 / 特徵對位
• 機器手臂與自動化整合

最適合的應用場景
• 半導體與封裝材料
• 精密加工件高度/粗度量測
• 汽機車零件幾何檢測
• 生產線抽驗與全檢流程
• 需要自動化定位與大量重複量測的工件
• 大小不規則或曲面的表面形貌量測

我們能協助您規劃整套整合方案（軟體 + 運動平台 + 客製治具 + 自動化），協助您的顯微流程更快速、更穩定、更智慧。

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