| 上料機 | 
			請參考UE-KO-EFEM-8規格 | 
		
		
			| 光學系統 | 
			可搭配我司所有3D量測儀/光學顯微鏡系列設備 | 
		
		
			| 軟體功能 | 
			瑕疵地圖座標讀取(對應KLA,Camtek等...), 與自動對位 | 
		
		
			|   | 
			瑕疵地圖資訊篩選與自動拍照, 存檔 | 
		
		
			|   | 
			自動圖像測量:CD 、Overlay  | 
		
		
			|   | 
			AI 自動瑕疵抓取與分類功能 | 
		
		
			|   | 
			瑕疵地圖圖片數據庫 | 
		
		
			|   | 
			自動光源調整系/自動圖像攝像功能/自動定位測量 | 
		
	
 
詳細規格資訊請與我們聯絡 : 
聯絡人: Andy Wen
電話: 03-4626569*2805
助理: Wendy *2822 
Email: andy.wen@unice.com.tw