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RLE-ME03
網站首頁
產品
教學套件
物理光學綜合實驗
RLE-ME03
RLE-ME03
產品型號:
RLE-ME03
產品說明:
實驗內容
1、楊氏雙縫干涉實驗;
2、馬赫曾德干涉實驗;
3、干涉條紋對比度研究實驗;
4、基於馬赫曾德的光開關實驗;
5、相干長度研究實驗;
6、泰曼格林干涉儀實驗;
7、基於泰曼格林干涉儀測量工件缺陷實驗;
8、光譜線精細結構測量實驗;
9、菲涅爾衍射實驗;
10、弗朗禾費衍射實驗;
11、不同波長激光衍射研究實驗;
12、光柵原理與應用實驗;
13、基於衍射測量細絲直徑實驗;
14、偏振特性實驗(線偏振、圓偏振);
15、 IMAX和REAL3D眼鏡特性研究實驗。
價格(NTD):
$0
產品說明
設備參數
1.光源組件:光纖耦合激光器:輸出功率>2mW,波長520nm,光線接頭FC/PC,光纖長度100cm。
2.光學組件:
偏振片:Φ25.4mm,K9玻璃窗口,AR@400~700nm,消光比>400:1;
石英波片:Φ25.4mm,石英晶體,低多級設計,光潔度III級,平行度:<30";
成像透鏡:Φ40mm,f=150mm;
可調衰減器:Φ50mm,光密度OD值0~3.0;
分光棱鏡:25.4mm×25.4mm×25.4mm,AR@400nm~700nm;
雙縫:外形:Ф20mm;間距1mm;縫寬:20μm;材料:不銹鋼。
3.空間光調製器組件:液晶類型:LCD,靶面尺寸1.3inch,像素尺寸26μm,分辨率1024×768、透過率>30%,刷新頻率60Hz,工作波段400nm~700nm,灰度階數8位、256階,集成一體化設計,便於光路搭建與調整。
4.探測器組件:可編程功率計:顯示屏顯示內容為測量波長、自動/手動量程模式、衰減窗口狀態、當前功率測量檔位;主機顯示頻率300mS/次,測量精度0.1μW,分辨率0.1μW,支持六擋量程;測量波長范圍200nm-1100nm,功率測量範 圍0-40mW(裸探測器)/0-2W(衰減窗口);提供實時功率顯示,長期功率檢測,並顯示測量時長、測量時間內的功率變化曲線,提供最大值、最小值、均值顯示,可導出excel數據,用戶設定功率警報範圍,超出報警提示; USB2.0遠程操作通訊接口。
CMOS相機:分辨率1280×1024,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0接口。
5.軟件功能:光強一維分佈分析曲線,干涉光強測量模塊,衍射光強測量模塊,干涉條紋對比度分析模塊,偏振測量模塊,圖像採集,USB2.0軟件鎖。
6.機械組件:光學導軌L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支桿;高精度調節鏡架,穩定性<2′。
7 實驗手冊及保修卡。
實驗原理
本頁規格內容為整理資訊,實際產品規格請以原廠最新公告為準。
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