雷射光斑輪廓中的「暈影」與「拖影」：原因與解決方案

日期：2025/06/03

在進行雷射光斑輪廓測量時，若出現不正常的圖像擴散或垂直條紋，可能是「暈影」或「拖影」效應所致。

什麼是暈影與拖影？

• 暈影（Blooming）：圖像向四周擴散，導致光斑看起來比實際更大。
• 拖影（Smearing）：出現單一方向的垂直亮條紋，通常與影像感測器的讀出方式有關。

為什麼會發生這些現象？

這些效應多見於使用 CCD 感測器的系統中，尤其是在短曝光時間和近紅外（NIR）波長的雷射測量中。

• 暈影：當單一像素的電荷溢出至周圍像素時，造成影像擴散。
• 拖影：感測器在垂直方向讀出電荷時，電荷沿著垂直轉移寄存器擴散，形成垂直條紋。

如何避免或修正這些問題？

1. 調整曝光時間與使用減光器：縮短曝光時間並適當減弱光強，可減少電荷溢出，但在某些情況下可能無法實現。
2. 使用 Ophir 的 BeamGage 軟體進行拖影修正：該軟體內建專有演算法，只需按下修正按鈕，即可自動處理拖影問題。

Ophir 結合先進的相機技術與高階軟體演算法，致力於提供最精確的雷射光斑輪廓測量解決方案。