大光束光型檢測方案

隨著穿戴式裝置&車用感測需求的崛起, 例如常見的臉部辨識、車距感測…等應用。
對於光源品質檢測需求日以俱增，可待測光束尺寸已大於感測器面積該如何量測?

雷射加工需求的光束通常是追求準直、光點小，可隨著雷射應用的延伸、掃描應用的興起，大發散角度、大尺寸光束的光源變得非常的普遍，可現有的感測器面積遠小於待測光束尺寸，這樣的狀況該如何有效的檢測光束品質呢?

最常使用的方式是採用投影方式拍攝光點
藉由將光束投影於屏幕，由另一測拍攝光在屏幕上的影像再進行分析。

使用上需要架設的部件非常的多，要花費不少時間在調整以及架設。
且使用者必須自行撰寫軟體分析取得的影像資訊，非常的不方便。

Ophir 推出的Wide Laser Beam Imager 的套件解決的上述的問題。

*  提供全波段的對應方案350~1700nm
*  搭配分析軟體
*  緊湊的模組，光束直接投射收光位置即可以使用
*  校正係數直接提供，無需使用者後續實驗測試
*  收光角度達+-70度
*  收光面積45mm