電光調製實驗

Product Name : 電光調製實驗

Description :

晶體在電場作用下會產生雙折射效應,利用此效應可以實現對光的相位和強度進行調製。本實驗使用鈮酸鋰晶體作為電光器件,可以定性觀察晶體錐光干涉圖,並定量測量晶體電光效應的半波電壓。
Specification

實驗內容

1、晶體錐光干涉測量實驗;
2、晶體電光調製半波電壓測量實驗;
3、晶體電光信號調製傳輸實驗;
 

實驗效果圖

電光晶體部件 錐光平涉圖 電光調制波形圖
Model Description Price (USD)
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RLE-SA06-A 電光調製實驗