RLE-CH04

Model : RLE-CH04

Description :

實驗內容
1、液晶結構認知與像素尺寸測量實驗;
2、液晶分子表面方向分佈測量實驗;
3、液晶透過率測量實驗;
4、SLM振幅調製曲線測量實驗;
5、SLM液晶取向測量實驗;
6、SLM相位調製模式的參數測量及標定實驗;
7、微光學元件設計與測量實驗;
8、抑制黑柵效應實驗。
Specification

設備參數

1. 光源組件:
    光纖耦合激光器:輸出功率>2mW,波長520nm,光纖接頭FC/PC,光纖長度100cm。
2. 空間光調製器組件:
    液晶類型:LCD,靶面尺寸1.3inch,像素尺寸:26μm,分辨率1024×768、透過率>30%,刷新頻率60Hz,工作波段:400~700nm、灰度階數8位、256階。集成一體化設計,便於光路的搭建
    與調整。
3. 探測器組件:
    可編程功率計:顯示屏顯示內容為測量波長、自動/手動量程模式、衰減窗口狀態、當前功率測量檔位;主機顯示頻率300mS/次,測量精度0.1μW,分辨率0.1μW,支持六擋量程;
    測量波長范圍200nm~1100nm,功率測量範圍0~40mW(裸探測器)/0~2W(衰減窗口);提供實時功率顯示,長期功率檢測,並顯示測量時長、測量時間內的功率變化曲線,提供最大值、
    最小值、均值顯示,可導出excel數據,用戶設定功率警報範圍,超出報警提示;USB2.0遠程操作通訊接口。
    CMOS相機:分辨率1280×1024,量化深度10bit,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0接口。
4. 光學組件:
    偏振片:Φ25.4mm,K9玻璃窗口,AR@400nm~700nm,消光比>400:1;
    成像透鏡:Φ40mm,f=150mm;
    分光棱鏡:25.4mm×25.4mm×25.4mm,AR@400~700nm;
    加強鋁反射鏡:Φ40mm。
5. 機械組件:
    精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊,調節支座、支桿;高精度調節鏡架,穩定性<2′。
6. 軟件組件:
    常用衍射光學元件庫,微光學元件設計模塊,黑柵效應抑制模塊(線性補償、數字菲涅耳補償),USB2.0軟件鎖。
7. 實驗手冊及保修卡。
 

實驗原理