光學系統像差、傳遞函數、焦距測量綜合實驗

Product Name : 光學系統像差、傳遞函數、焦距測量綜合實驗

Description :

實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異稱為像差,該參數主要用於評價光學系統的成像質量;傳遞函數測量法是工程上常用於光學系統成像質量評價的方法。光學系統像差理論及傳遞函數測量是《工程光學》課程的重要章節。 RealLight® 開發的像差測量實驗,採用特殊設計的像差鏡頭,像差現象清晰;傳遞函數測量實驗,採用分辨率直讀法和調製傳遞函數(MTF)測量法,緊密結合實際工程應用。本實驗緊貼光電教學內容,適用於光電專業本科生實驗,亦可作為高職院校實訓設備及工廠生產檢驗設備使用。
Specification

實驗內容

1、光學系統像差的計算機模擬實驗;
2、平行光管的調整及使用方法實驗;
3、軸向位置色差的測量實驗;
4、像差的星點法觀測實驗;
5、刀口儀陰影法原理及陰影法測量光學系統像差實驗;
6、分辨力板直讀法測量光學系統分辨率;
7、利用變頻朗奇光柵測量光學系統MTF值實驗;
8、基於線擴散函數測量光學系統MTF值實驗;
9、正透鏡焦距測量實驗;
10、負透鏡焦距測量實驗
 

實驗效果圖

像差鏡頭及支架 平行光管 球差, 彗差, 像散,場曲結果圖 傳遞函數實驗軟體介面
Model Description Price (USD)
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RLE-ME01 光學系統像差、傳遞函數、焦距測量綜合實驗